高溫集成電路軟錯(cuò)誤評(píng)估系統(tǒng)

A-貨物_A****0000-設(shè)備_A****0000-儀器儀表_A****0400-分析儀器_A****0499-其他分析儀器

采購(gòu)標(biāo)名稱：高溫集成電路軟錯(cuò)誤評(píng)估系統(tǒng)采購(gòu)； 主要功能： 一、模塊1：激光輻照源控制模塊；通過集成控制實(shí)現(xiàn)對(duì)激光器外觸發(fā)的控制。 1.模擬重離子LET值范圍：1~120MeV﹒cm2/mg； 2.掃描測(cè)量激光注量調(diào)節(jié)范圍：1~1E7脈沖/cm2。 二、模塊2：掃描控制成像和集成電路敏感區(qū)域定位模塊；遠(yuǎn)程實(shí)現(xiàn)對(duì)三維移動(dòng)臺(tái)實(shí)時(shí)控制，針對(duì)輻照試驗(yàn)對(duì)象建立敏感區(qū)域掃描坐標(biāo)系，并實(shí)時(shí)測(cè)繪器件的敏感位圖。 1.輔助成像系統(tǒng)分辨率：640×512； 2.測(cè)繪定位分辨率：1μm。 三、模塊3：激光能量測(cè)量和分析計(jì)算模塊；完成激光能量測(cè)量和分析計(jì)算 1.能量測(cè)試范圍：μJ-mJ量級(jí)； 2.標(biāo)準(zhǔn)頻率：1kHz。 四、模塊4：實(shí)時(shí)溫度監(jiān)控測(cè)量和深層器件材料溫度等效計(jì)算模塊；對(duì)激光輻照器件材料表面的溫度進(jìn)行實(shí)施監(jiān)控測(cè)量，內(nèi)置對(duì)激光輻照器件材料的深層溫度進(jìn)行模擬計(jì)算，并可繪制動(dòng)力學(xué)溫度變化曲線。 1.溫度測(cè)量范圍：300~700K； 2.溫度測(cè)量精度：測(cè)量值的±1%。 五、數(shù)據(jù)記錄及處理及集成顯示模塊；完成對(duì)試驗(yàn)中硬件控制及作業(yè)支撐。 采購(gòu)數(shù)量：1套。 采購(gòu)要求： 1.設(shè)備廠家應(yīng)提供使用、安全以及維護(hù)保養(yǎng)等方面的培訓(xùn)； 2.設(shè)備供貨周期10個(gè)月，安裝調(diào)制周期1個(gè)月； 3.按照約定的驗(yàn)收方法以及驗(yàn)收準(zhǔn)則對(duì)設(shè)備的技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行質(zhì)量驗(yàn)收； 4.設(shè)備廠家提供從驗(yàn)收合格之日起配件一年免費(fèi)質(zhì)保，終身維修的服務(wù)（保修期內(nèi)免備件費(fèi)和人工費(fèi)）